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中科院西安光學(xué)精密機械研究所干涉光譜成像技術(shù)取得重要進展

2011-07-16

                            中科院西安光學(xué)精密機械研究所干涉光譜成像技術(shù)取得重要進展

編輯：123儀器商城

　   中科院西安光學(xué)精密機械研究所新型干涉光譜成像技術(shù)研究日前取得重要進展。以胡炳樑研究員為首的研究團隊在國內(nèi)率先將離軸三反光學(xué)系統(tǒng)應(yīng)用于短波紅外干涉光譜成像系統(tǒng)中，并成功研制了基于M-Z像面干涉光譜成像的離軸三反桌面樣機系統(tǒng)。
　　
　　面向?qū)捀采w、高分辨率、高光譜分辨率的要求，離軸三反加M-Z像面干涉光譜成像技術(shù)可以有效解決大視場光學(xué)系統(tǒng)和大尺寸干涉儀的技術(shù)瓶頸。M-Z干涉儀放置在系統(tǒng)會聚光路中，在減小系統(tǒng)體積和重量的同時，能量利用率可以達到成像儀的極限；離軸三反光學(xué)系統(tǒng)則能夠同時實現(xiàn)長焦距與大視場，并且沒有中心遮攔，傳遞函數(shù)高。
　　
　　但在基于M-Z像面干涉的光譜成像系統(tǒng)中，離軸全反射系統(tǒng)難以補償會聚光路中M-Z干涉儀棱鏡元件所引入的像差。為此，科研人員將校正補償系統(tǒng)應(yīng)用到離軸三反系統(tǒng)中，設(shè)計并成功研制了一種新型離軸三反成像光學(xué)系統(tǒng)，并針對離軸三反系統(tǒng)裝調(diào)自由度多，結(jié)構(gòu)非對稱性以及離軸系統(tǒng)離軸量需要精確測量調(diào)整等問題，解決了離軸非球面微應(yīng)力裝夾、多自由度調(diào)整結(jié)構(gòu)形式、離軸三反系統(tǒng)高精度裝調(diào)等多項技術(shù)難點，為高分辨率、高光譜分辨率光譜成像技術(shù)奠定了堅實基礎(chǔ)，并完成了必要的技術(shù)儲備，使西安光機所先進光譜成像技術(shù)達到了國內(nèi)領(lǐng)先水平。

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